JEM 2100F 高分辨透射电子显微镜

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JEM 2100F 是一款先进的透射电子显微镜,在同类显微镜中,它的分析功能最强、获得的图像质量最高。束斑尺寸在0.5nm以下,可以快速地获得超高分辨率图像,使原子尺度的结构分析更简便。

主要功能:

基础研究;固体物质微结构研究;高分辨显微术;晶体结构及晶体缺陷分析;物质微区元素成分测定;先进材料制备方法、性能与结构关系的研究。

技术参数:

  1. 点分辨率:0.19nm ;
  2. 线分辨率:0.14nm ;
  3. 加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV ;
  4. 倾斜角:±25°;
  5. TEM分辨率:0.20nm。